中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	On-Chip Generating FPGA Test Configuration Bitstreams to Reduce Manufacturing Test Time 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2016, 卷号: 25, 期号: 1, 页码: 64-70 作者:  Wang Fei;  Wang Da;  Yang Haigang;  Xie Xianghui;  Fan Dongrui 收藏  |  浏览/下载：62/0  |  提交时间：2019/12/13 FPGA test  Test configuration bitstream  Design-for-testability