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中国科学院计算技术研究所机构知识库
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Capture-power-aware test data compression using selective encoding
期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216
作者:
Li, Jia
;
Liu, Xiao
;
Zhang, Yubin
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
;
Xu, Qiang
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提交时间:2019/12/16
Test compression
Low-power testing
Scan-based testing
Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777
作者:
Li Jia
;
Hu Yu
;
Li XiaoWei
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提交时间:2019/12/16
low power DfT
scan-based testing
test power reduction
scan chain design