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Functional Testing and Repair for ReRAM-Based Deep-Learning Accelerators 期刊论文
IEEE DESIGN & TEST, 2025, 卷号: 42, 期号: 3, 页码: 66-73
作者:  Li, Wen;  Wang, Ying;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei;  Zou, Kaiwei
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2025/06/25
Accuracy  Fault tolerant systems  Fault tolerance  Deep learning  Image edge detection  Fault detection  Computational modeling  Training  Reliability  Hafnium  Deep Neural Network  ReRAM  Functional Test  Computing-in-Memory