中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Functional Testing and Repair for ReRAM-Based Deep-Learning Accelerators 期刊论文 IEEE DESIGN & TEST, 2025, 卷号: 42, 期号: 3, 页码: 66-73 作者:  Li, Wen;  Wang, Ying;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei;  Zou, Kaiwei 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2025/06/25 Accuracy  Fault tolerant systems  Fault tolerance  Deep learning  Image edge detection  Fault detection  Computational modeling  Training  Reliability  Hafnium  Deep Neural Network  ReRAM  Functional Test  Computing-in-Memory
	Attar: RRAM-based in-memory attention accelerator with software-hardware co-optimization 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2025, 卷号: 68, 期号: 3, 页码: 17 作者:  Li, Bing;  Qi, Ying;  Wang, Ying;  Han, Yinhe 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2025/06/25 RRAM  computing-in-memory  attention  pruning  quantization