中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Functional Testing and Repair for ReRAM-Based Deep-Learning Accelerators 期刊论文 IEEE DESIGN & TEST, 2025, 卷号: 42, 期号: 3, 页码: 66-73 作者:  Li, Wen;  Wang, Ying;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei;  Zou, Kaiwei 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2025/06/25 Accuracy  Fault tolerant systems  Fault tolerance  Deep learning  Image edge detection  Fault detection  Computational modeling  Training  Reliability  Hafnium  Deep Neural Network  ReRAM  Functional Test  Computing-in-Memory
	CAP: Communication-Aware Automated Parallelization for Deep Learning Inference on CMP Architectures 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2022, 卷号: 71, 期号: 7, 页码: 1626-1639 作者:  Zou, Kaiwei;  Wang, Ying;  Cheng, Long;  Qu, Songyun;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2022/12/07 Kernel  Computer architecture  Multicore processing  Deep learning  System-on-chip  Parallel processing  Real-time systems  Neural networks  parallel processing  real-time and embedded systems  single-chip multiprocessors  reinforcement learning  structured sparsity