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A fast test compaction method using dedicated Pure MaxSAT solver embedded in DFT flow 期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2025, 卷号: 100, 页码: 11
作者:  Chao, Zhiteng;  Zhang, Xindi;  Huang, Junying;  Liu, Zizhen;  Zhao, Yixuan;  Ye, Jing;  Cai, Shaowei;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei
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Static test compaction  Pure MaxSAT  DFT  ATPG