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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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图形化编程中模块间并行性的自动挖掘
期刊论文
计算机工程, 2007, 卷号: 33.0, 期号: 010, 页码: 87
作者:
尹华祥
;
丁玉磊
;
徐铸
;
洪学海
;
刘金刚
;
冯圣中
;
邱振戈
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提交时间:2023/12/04
图形化编程
自动挖掘
多线程
并行性
基于网络的科学问题求解环境研究
期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 015, 页码: 99
作者:
王仁重
;
徐铸
;
尹华祥
;
丁玉磊
;
冯高峰
;
邱振戈
;
王沁
;
冯圣中
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2023/12/04
问题求解环境
网格计算
高性能计算
A novel RTL behavioral description based ATPG method
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317
作者:
Yin, ZG
;
Min, YH
;
Li, XW
;
Li, HW
收藏
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浏览/下载:74/0
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提交时间:2019/12/16
RTL (Register Transfer Level)
ATPG (Automatic Test Pattern Generation)
behavioral description
HDL (Hardware Description Language)
一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:
尹志刚
;
李华伟
;
李晓维
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2023/12/04
IEEE1149.1标准
国际标准
可测试性设计结构
时序电路
通用CPU设计中的模拟验证技术及应用
期刊论文
系统仿真学报, 2002, 卷号: 14.0, 期号: 012, 页码: 1698
作者:
吕涛
;
李华伟
;
尹志刚
;
刘国华
;
李晓维
;
樊建平
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2023/12/04
CPU
设计
模拟验证
芯片
错误模型
覆盖准则
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用
期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:
李华伟
;
李晓维
;
尹志刚
;
吕涛
;
何蓉晖
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2023/12/04
可测试性设计
CPU芯片
扫描设计
TEEE1149.1标准
一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法
期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1199
作者:
尹志刚
;
李华伟
;
李晓维
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2023/12/04
抽象
蕴含
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行为描述
测试向量
集成电路
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