中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)
	Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134 作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ 收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2019/12/16 SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping
	Test resource partitioning based on efficient response compaction for test time and tester channels reduction 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 201-209 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2019/12/16 system-on-a-chip (SoC)  test resource partitioning (TRP)  response compaction  diagnose  error cancellation