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考虑串扰影响的时延测试 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 011, 页码: 73
作者:  张月;  李华伟;  宫云战;  李晓雄
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
集成电路  设计  集成度  串扰  时延测试  波形敏化