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一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
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IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路  
通用CPU设计中的模拟验证技术及应用 期刊论文
系统仿真学报, 2002, 卷号: 14.0, 期号: 012, 页码: 1698
作者:  吕涛;  李华伟;  尹志刚;  刘国华;  李晓维;  樊建平
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CPU  设计  模拟验证  芯片  错误模型  覆盖准则  
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:  李华伟;  李晓维;  尹志刚;  吕涛;  何蓉晖
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可测试性设计  CPU芯片  扫描设计  TEEE1149.1标准  
一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法 期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1199
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
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抽象  蕴含  寄存器传输级  行为描述  测试向量  集成电路  芯片测试