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	一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构期刊论文微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23 作者: 尹志刚; 李华伟; 李晓维收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2023/12/04 IEEE1149.1标准国际标准可测试性设计结构时序电路
	通用CPU设计中的模拟验证技术及应用期刊论文系统仿真学报, 2002, 卷号: 14.0, 期号: 012, 页码: 1698 作者: 吕涛; 李华伟; 尹志刚; 刘国华; 李晓维; 樊建平收藏 \| 浏览/下载：11/0 \| 提交时间：2023/12/04 CPU 设计模拟验证芯片错误模型覆盖准则
	可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用期刊论文计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191 作者: 李华伟; 李晓维; 尹志刚; 吕涛; 何蓉晖收藏 \| 浏览/下载：14/0 \| 提交时间：2023/12/04 可测试性设计 CPU芯片扫描设计 TEEE1149.1标准
	一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法期刊论文同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1199 作者: 尹志刚; 李华伟; 李晓维收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2023/12/04 抽象蕴含寄存器传输级行为描述测试向量集成电路芯片测试

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