中文版 | English

在结果中检索

CSpace

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 期刊论文
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448
作者:  欧阳丹彤;  陈晓艳;  叶靖;  邓召勇;  张立明
收藏  |  浏览/下载：83/0  |  提交时间：2023/12/04
电路测试  自动测试向量生成  测试向量集  约简  故障覆盖率  极小碰集  固定型故障  
面向卷积神经网络加速器吞吐量优化的FPGA自动化设计方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2018, 卷号: 30.0, 期号: 011, 页码: 2164
作者:  陆维娜;  胡瑜;  叶靖;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：100/0  |  提交时间：2023/12/04
FPGA  卷积神经网络  加速器吞吐量  自动化并行设计  
内建自调整的仲裁器物理不可克隆函数 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2017, 卷号: 29.0, 期号: 009, 页码: 1734
作者:  龚越;  叶靖;  胡瑜;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：75/0  |  提交时间：2023/12/04
物理不可克隆函数  随机性  内建自调整  FPGA  
无权访问的条目 学位论文
作者:  叶靖
Adobe PDF(3206Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2014/07/02
“存储＋逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146
作者:  叶靖;  郭瑞峰;  胡瑜;  郑武东;  黄宇;  赖李洋;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：79/0  |  提交时间：2023/12/04
3D集成电路  硅通孔  可测试性设计  JEDEC协议JESD229  IEEE  1149  1协议