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A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536
作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei
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Ciphers  Encryption  Integrated circuits  Side-channel attacks  Testing  Cryptographic hash function  obfuscation logic  scan design  scan-based side-channel attack  
无权访问的条目 学位论文
作者:  吕贺扬
Adobe PDF(5183Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2018/07/03
无权访问的条目 学位论文
作者:  李书豪
Adobe PDF(2928Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2012/07/03