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| Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者: Liu, Peng; You, Zhiqiang; Wu, Jigang; Liu, Bosheng; Han, Yinhe; Chakrabarty, Krishnendu
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Electrical defects fault model defect-oriented testing March algorithm non-volatile memory |
| 无权访问的条目 学位论文
作者: 敖琪
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 尹一笑
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 方运潭
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 叶靖
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 许达文
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 黄柯衡
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 高国重
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 陈祥博
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 郭浩
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