中文版 | English

在结果中检索

CSpace

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:  李华伟;  李晓维;  尹志刚;  吕涛;  何蓉晖
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  CPU芯片  扫描设计  TEEE1149.1标准