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| Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者: Liu, Peng; You, Zhiqiang; Wu, Jigang; Liu, Bosheng; Han, Yinhe; Chakrabarty, Krishnendu
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Electrical defects fault model defect-oriented testing March algorithm non-volatile memory |
| Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758
作者: Liu, Peng; You, Zhiqiang; Wu, Jigang; Elimu, Michael; Wang, Weizheng; Cai, Shuo; Han, Yinhe
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Non-volatile memory RRAM CMOL memristor testing |
| 无权访问的条目 学位论文
作者: 郭浩强
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 孟绪颖
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 张明喆
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 韩春静
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 周碧玉
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 于雷
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 金志威
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| 无权访问的条目 学位论文
作者: 柯莹
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