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Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei
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microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维)
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