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Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680
作者:  Wang, Wei;  Hu, Yu;  Han, Yin-He;  Li, Xiao-Wei;  Zhang, You-Sheng
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leakage current  don't care bits  minimum leakage vector  leakage power  
Embedded test decompressor to reduce the required channels and vector memory of tester for complex processor circuit 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2007, 卷号: 15, 期号: 5, 页码: 531-540
作者:  Han, Yinhe;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Chandra, Anshuman
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automatic test equipment (ATE)  Godson processor  MUX network  test stimulus decompression  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Wei Wang(王伟);  Yu Hu(胡瑜);  Yin-He Han(韩银和);  Xiao-Wei Li(李晓维);  You-Sheng Zhang(张佑生)
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  吴明行;  韩银和;  胡瑜;  王飞;  李晓维
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  王 伟;  韩银和;  胡 瑜;  李晓维;  张佑生
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  范小鑫;  李华伟;  胡瑜;  李晓维
Adobe PDF(261Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/22