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一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
CMOS电路动静态功耗协同分析 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 010, 页码: 231
作者:  徐勇军;  陈静华;  骆祖莹;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
功耗估计  协同分析  均方率  最大偏移率  
集成电路高层故障模型评估方法 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 004, 页码: 228
作者:  杨修涛;  鲁巍;  李晓维
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模型评估  强对应集  弱对应集  
测试向量的周期化关键技术研究与实现 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32, 期号: 22, 页码: 246
作者:  吴明行;  韩银和;  胡瑜;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
测试向量  状态取样法  波形提取法  哈希表  
测试向量转换中波形数据格式及其压缩编码算法 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32, 期号: 23, 页码: 250
作者:  吴明行;  韩银和;  胡瑜;  李晓维
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测试向量  波形数据格式  标准测试接口语言  压缩编码算法  
基于体系结构的软件可靠性参数早期预测 期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 005, 页码: 90
作者:  张广梅;  李晓维
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软件体系结构  软件可靠性  平均无故障运行时间  软件组件  
应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维
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可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入  
基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计 期刊论文
计算机工程, 2004, 卷号: 30.0, 期号: 019, 页码: 30
作者:  鲁巍;  杨修涛;  李晓维
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边界扫描  可测性设计  IEEEI  149．1  标准（JTAG）