Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| 集成电路高层故障模型评估方法 | |
| 杨修涛; 鲁巍; 李晓维 | |
| 2006 | |
| 发表期刊 | 计算机工程
 |
| ISSN | 1000-3428 |
| 卷号 | 32.0期号:004页码:228 |
| 摘要 | 给出了利用测试向量进行评估的基本理论方法，以及强对应集和弱对应集的定义及推论。按该方法，依不同模型生成测试向量，然后进行相互间的覆盖计算，以比较模型的优劣。最后对ITC99-benchmark电路进行实验，结果表明该方法是有效的。 |
| 关键词 | 模型评估 强对应集 弱对应集 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/31546 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨修涛,鲁巍,李晓维. 集成电路高层故障模型评估方法[J]. 计算机工程,2006,32.0(004):228. |
| APA | 杨修涛,鲁巍,&李晓维.(2006).集成电路高层故障模型评估方法.计算机工程,32.0(004),228. |
| MLA | 杨修涛,et al."集成电路高层故障模型评估方法".计算机工程 32.0.004(2006):228. |
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