×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
登录
中文版
|
English
中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
资助项目
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
中国科学院计算技术... [13]
作者
李晓维 [13]
李华伟 [5]
何蓉晖 [3]
吕涛 [3]
尹志刚 [3]
胡瑜 [3]
更多...
文献类型
期刊论文 [13]
发表日期
2018 [1]
2014 [2]
2006 [1]
2005 [1]
2004 [1]
2003 [2]
更多...
语种
英语 [13]
出处
计算机工程 [3]
计算机辅助设计与图形... [3]
同济大学学报:自然科... [2]
微电子学与计算机 [2]
计算机工程与应用 [2]
系统仿真学报 [1]
更多...
资助项目
收录类别
资助机构
×
知识图谱
CSpace
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共13条,第1-10条
帮助
限定条件
作者:李晓维
第一作者
语种:英语
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
题名升序
题名降序
面向卷积神经网络加速器吞吐量优化的FPGA自动化设计方法
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2018, 卷号: 30.0, 期号: 011, 页码: 2164
作者:
陆维娜
;
胡瑜
;
叶靖
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
FPGA
卷积神经网络
加速器吞吐量
自动化并行设计
“存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146
作者:
叶靖
;
郭瑞峰
;
胡瑜
;
郑武东
;
黄宇
;
赖李洋
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2023/12/04
3D集成电路
硅通孔
可测试性设计
JEDEC协议JESD229
IEEE
1149
1协议
面向内存的混合容错编码动态调节设计
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 009, 页码: 1479
作者:
李冰
;
单书畅
;
胡瑜
;
高翔
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
内存系统
可靠性
容错设计
纠错检错编码
一种微处理器芯片的验证测试分析及应用
期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:
檀彦卓
;
韩银和
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
验证测试
生产测试
失效分析
可测试性设计
故障模型
应用于逻辑核的BIST关键技术研究
期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:
李吉
;
徐勇军
;
韩银和
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
可测性设计
逻辑内建自测试
测试点插入
基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计
期刊论文
计算机工程, 2004, 卷号: 30.0, 期号: 019, 页码: 30
作者:
鲁巍
;
杨修涛
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
边界扫描
可测性设计
IEEEI
149.1
标准(JTAG)
一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:
尹志刚
;
李华伟
;
李晓维
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
IEEE1149.1标准
国际标准
可测试性设计结构
时序电路
一种低功耗BIST测试产生器方案
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:
何蓉晖
;
李晓维
;
宫云战
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2023/12/04
BIST
低功耗设计
内建自测试
测试产生器
线性反馈移位寄存器
集成电路
通用CPU设计中的模拟验证技术及应用
期刊论文
系统仿真学报, 2002, 卷号: 14.0, 期号: 012, 页码: 1698
作者:
吕涛
;
李华伟
;
尹志刚
;
刘国华
;
李晓维
;
樊建平
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
CPU
设计
模拟验证
芯片
错误模型
覆盖准则
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用
期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:
李华伟
;
李晓维
;
尹志刚
;
吕涛
;
何蓉晖
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2023/12/04
可测试性设计
CPU芯片
扫描设计
TEEE1149.1标准