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An efficient evaluation and vector generation method for observability-enhanced statement coverage 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 875-884
作者:  Lu, W;  Yang, XT;  Lv, T;  Li, XW
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design verification  simulation  coverage metrics  observability  vector generation  
Leakage current estimation of CMOS circuit with stack effect 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2004, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 708-717
作者:  Xu, YJ;  Luo, ZY;  Li, XW;  Li, LJ;  Hong, XL
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computer-aided design  leakage current estimation  stack effect  macromodeling  propagation of signal probability