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The Impact of Ferroelectric FETs on Digital and Analog Circuits and Architectures 期刊论文
IEEE DESIGN & TEST, 2020, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 79-99
作者:  Chen, Xiaoming;  Sun, Xiaoyu;  Wang, Panni;  Datta, Suman;  Hu, Xiaobo Sharon;  Yin, Xunzhao;  Jerry, Matthew;  Yu, Shimeng;  Laguna, Ann Franchesca;  Ni, Kai;  Niemier, Michael T.;  Reis, Dayane
收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2020/12/10
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