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Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Liu, Bosheng;  Han, Yinhe;  Chakrabarty, Krishnendu
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Electrical defects  fault model  defect-oriented testing  March algorithm  non-volatile memory