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基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 期刊论文
电子学报, 2011, 卷号: 39.0, 期号: 005, 页码: 1031
作者:  王杰;  梁华国;  李华伟;  闵应骅;  李晓维
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小时延缺陷  时延测试  冒险  测试质量评估  输出违例概率  
时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029
作者:  王杰;  张磊;  李华伟;  韩银和;  李晓维;  梁华国
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
3D  IC  绑定  时延测量  关键通路  成品率