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一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
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验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
面向存储器核的内建自测试 期刊论文
计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40
作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术  
一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2023/12/04
BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路  
一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核