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基于SAT的快速电路时延计算 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 480
作者:  何子键;  吕涛;  李华伟;  李晓维
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可满足性  电路时延  电路展开  
时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029
作者:  王杰;  张磊;  李华伟;  韩银和;  李晓维;  梁华国
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
3D  IC  绑定  时延测量  关键通路  成品率  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  张旻晋;  桂文明;  苏涤生;  王飞;  韩银和;  李华伟;  李晓维
Adobe PDF(366Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/02/02
无权访问的条目 期刊论文
作者:  韩银和;  胡瑜;  董婕;  王伟;  李华伟;  李晓维
Adobe PDF(333Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/02/02
无权访问的条目 期刊论文
作者:  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
Adobe PDF(395Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/24
面向存储器核的内建自测试 期刊论文
计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40
作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术  
应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法 期刊论文
电子学报, 2004, 卷号: 32.0, 期号: 008, 页码: 1346
作者:  韩银和;  李晓维;  徐勇军;  李华伟
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Variable-Tail编码  Golomb编码  可适应性  测试模式  诊断模式