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可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文
贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计