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一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型 期刊论文
微电子学与计算机, 2004, 卷号: 21.0, 期号: 002, 页码: 108
作者:  李晓维;  陈治国;  徐勇军
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CMOS电路  概率分析  扫描链  动态功耗模型  电路功耗  静态功耗  动态功耗  
一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
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IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路  
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者:  骆祖莹;  李晓维;  洪先龙
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功耗  海明距离  集成电路  向量测试  电路功耗  时序电路  
一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战
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BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路