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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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Hu, Yu [2]
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Li, Jia [1]
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文献类型
期刊论文 [3]
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2011 [1]
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收录类别:SCI
资助项目:National Natural Science Foundation of China[60633060]
专题:中国科学院计算技术研究所期刊论文
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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
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Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777
作者:
Li Jia
;
Hu Yu
;
Li XiaoWei
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2019/12/16
low power DfT
scan-based testing
test power reduction
scan chain design
X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092
作者:
Li, Jia
;
Xu, Qiang
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
收藏
  |  
浏览/下载:38/0
  |  
提交时间:2019/12/16
At-speed scan-based testing
low-power testing
X-filling
Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:
Wang, Da
;
Hu, Yu
;
Li, Hua-Wei
;
Li, Xiao-Wei
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浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2019/12/16
microprocessor design-for-testability
test generation
built-in self-test
at-speed testing