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	Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Liu, Bosheng;  Han, Yinhe;  Chakrabarty, Krishnendu 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/06/21 Electrical defects  fault model  defect-oriented testing  March algorithm  non-volatile memory
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  王达;  李华伟;  胡瑜;  李晓维 Adobe PDF(453Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/02/02
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  李华伟;  李晓维 Adobe PDF(370Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/02/02