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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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李晓维 [2]
何蓉晖 [1]
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张立明 [1]
徐勇军 [1]
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文献类型
期刊论文 [4]
发表日期
2019 [1]
2014 [1]
2003 [2]
语种
英语 [4]
出处
微电子学与计算机 [2]
计算机研究与发展 [1]
计算机辅助设计与图形... [1]
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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
期刊论文
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448
作者:
欧阳丹彤
;
陈晓艳
;
叶靖
;
邓召勇
;
张立明
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2023/12/04
电路测试
自动测试向量生成
测试向量集
约简
故障覆盖率
极小碰集
固定型故障
基于GPU的最大化1~n倍检测的测试向量选择方法
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 154
作者:
许达文
;
李华伟
收藏
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浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
测试向量选择
n倍检测
GPU
并行编程
SOC测试数据的编码压缩技术
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44
作者:
韩银和
;
李晓维
;
徐勇军
;
蒋敬旗
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2023/12/04
测试
编码压缩技术
SOC
哈夫曼编码
游程编码
Golomb编码
最小海明距离排序
系统集成技术
集成电路
一种低功耗BIST测试产生器方案
期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:
何蓉晖
;
李晓维
;
宫云战
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2023/12/04
BIST
低功耗设计
内建自测试
测试产生器
线性反馈移位寄存器
集成电路