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| Fault tolerance on-chip: a reliable computing paradigm using self-test, self-diagnosis, and self-repair (3S) approach 期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 17
作者: Li, Xiaowei; Yan, Guihai; Ye, Jing; Wang, Ying
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fault tolerance on-chip self-test self-diagnosis self-repair |
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作者: 龚越
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作者: 张雅滋
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作者: 张明喆
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作者: 周碧玉
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作者: 王春玲
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作者: 邵益文
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作者: 施亚虎
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作者: 张敬玮
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作者: 李薇
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