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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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中国科学院计算技术研... [4]
作者
Li, Xiaowe... [2]
Ye, Jing [2]
Feng, Xiao... [1]
Guihai YAN [1]
Guo, Qingl... [1]
Hu, Yu [1]
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文献类型
期刊论文 [4]
发表日期
2018 [4]
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发表日期:2018
专题:中国科学院计算技术研究所期刊论文
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Deterministic and Probabilistic Diagnostic Challenge Generation for Arbiter Physical Unclonable Function
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2018, 卷号: 37, 期号: 12, 页码: 3186-3197
作者:
Ye, Jing
;
Guo, Qingli
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
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浏览/下载:263/0
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提交时间:2019/04/03
Arbiter physical unclonable function (PUF)
delay fault
diagnostic challenge
fault diagnosis
stuck-at fault
Fault tolerance on-chip: a reliable computing paradigm using self-test, self-diagnosis, and self-repair (3S) approach
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 17
作者:
Li, Xiaowei
;
Yan, Guihai
;
Ye, Jing
;
Wang, Ying
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  |  
浏览/下载:69/0
  |  
提交时间:2019/12/10
fault tolerance
on-chip
self-test
self-diagnosis
self-repair
RARE: An Efficient Static Fault Detection Framework for Definition-Use Faults in Large Programs
期刊论文
IEEE ACCESS, 2018, 卷号: 6, 页码: 10432-10444
作者:
Zhong, Lujie
;
Yew, Pen-Chung
;
Huo, Wei
;
Li, Feng
;
Feng, Xiaobing
;
Zhang, Zhaoqing
收藏
  |  
浏览/下载:54/0
  |  
提交时间:2019/12/10
Accuracy
fault detection
scalability
sensitivity
software reliability
Fault tolerance on-chip:a reliable computing paradigm using self-test,self-diagnosis,and self-repair (3S)approach
期刊论文
中国科学:信息科学(英文版), 2018, 卷号: 61.0, 期号: 011, 页码: 112102
作者:
Xiaowei LI
;
Guihai YAN
;
Jing YE
;
Ying WANG
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2023/12/04
fault
tolerance
on-chip
self-test
self-diagnosis
self-repair