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集成电路测试技术的新进展 期刊论文
电子测量与仪器学报, 2007, 卷号: 21.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  时万春
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集成电路测试系统  SIP测试  RF测试  DFT测试  并发测试  开放式体系结构ATE  
面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用 期刊论文
计算机学报, 2007, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1681
作者:  张旻晋;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
串扰  静态时序分析  通路时延故障  时延测试