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测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 52
作者:  骆祖莹;  李晓维;  洪先龙
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功耗  海明距离  集成电路  向量测试  电路功耗  时序电路  
CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系及其应用 期刊论文
中国科学：E辑, 2003, 卷号: 33.0, 期号: 002, 页码: 174
作者:  骆祖莹;  闵应骅;  杨士元;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
CMOS  VLSI电路  无时延平均功耗  单调递增关系  功耗估计  测试功耗  有时延平均功耗  集成电路