中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	作者：韩银和    第一作者    语种：英语

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	组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法 期刊论文 计算机研究与发展, 2011, 卷号: 48.0, 期号: 003, 页码: 535 作者:  雷韶华;  韩银和;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 软错误率  电气屏蔽特性  窗闩屏蔽特性  逻辑屏蔽特性  重汇聚
	考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242 作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化
	龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2021 作者:  齐子初;  刘慧;  石小兵;  韩银和 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 低功耗测试  微处理器测试  多核微处理器测试  基于IP的测试
	组合逻辑中瞬时错误传播的频域分析方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2008, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 605 作者:  雷韶华;  韩银和;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 傅里叶变换  HSPICE  线性系统  非线性系统
	应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文 计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55 作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入
	面向存储器核的内建自测试 期刊论文 计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40 作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术