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组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法
雷韶华; 韩银和; 李晓维
2011
发表期刊计算机研究与发展
ISSN1000-1239
卷号48.0期号:003页码:535
摘要基于频域的软错误率分析方法可实现快速而精确地分析组合逻辑中软错误的电气屏蔽特性和窗闩屏蔽特性.该方法利用信号和逻辑门的频域特性,计算瞬时错误信号在组合逻辑电路中传播过程.基于频域的分析方法主要分为2个处理步骤:线性系统处理和非线性系统处理.线性系统处理通过电路系统的频率响应来计算输出信号.非线性系统处理瞬时信号的幅度过高而导致晶体管工作在不同的线性系统的情况.基于频域的分析方法采用电路系统的输入输出特性来计算非线性系统的输出信号.数据拟合的方法可以求解粒子击中而导致的瞬时错误信号的信号宽度和通路输出信号的信号宽度之间的函数关系.二者结合可计算由粒子撞击而导致错误信号的概率.使用反相器链的实验结果表明,相对于HSPICE仿真,基于频域的软错误率分析方法是高效的,且可以取得平均96.96%的精确度.使用ISCAS85基准电路和乘法器阵列的实验结果表明,基于频域的软错误率分析方法取得95.82%的精确度.
关键词软错误率 电气屏蔽特性 窗闩屏蔽特性 逻辑屏蔽特性 重汇聚
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35864
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位中国科学院计算技术研究所
第一作者单位中国科学院计算技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
雷韶华,韩银和,李晓维. 组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法[J]. 计算机研究与发展,2011,48.0(003):535.
APA 雷韶华,韩银和,&李晓维.(2011).组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法.计算机研究与发展,48.0(003),535.
MLA 雷韶华,et al."组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法".计算机研究与发展 48.0.003(2011):535.
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