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一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
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IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路  
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:  李华伟;  李晓维;  尹志刚;  吕涛;  何蓉晖
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  CPU芯片  扫描设计  TEEE1149.1标准