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| SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法 期刊论文 计算机研究与发展, 2014, 卷号: 51.0, 期号: 008, 页码: 1764 作者: 夏静; 王天成 ; 吕涛; 李华伟; 邝继顺
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 SRAM型FPGA 软错误率 可靠性 装箱 单粒子翻转 |
| 基于SAT的快速电路时延计算 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 480 作者: 何子键; 吕涛; 李华伟; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 可满足性 电路时延 电路展开 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 吕涛; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 赵阳; 吕涛; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 赵阳; 吕涛; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 刘领一; 赵阳; 吕涛; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 胡瑜; 韩银和; 李华伟; 吕涛; 李晓维
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| 可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文 计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191 作者: 李华伟; 李晓维; 尹志刚; 吕涛; 何蓉晖
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2023/12/04 可测试性设计 CPU芯片 扫描设计 TEEE1149.1标准 |