中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Fault tolerance on-chip: a reliable computing paradigm using self-test, self-diagnosis, and self-repair (3S) approach 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 17 作者:  Li, Xiaowei;  Yan, Guihai;  Ye, Jing;  Wang, Ying 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/10 fault tolerance  on-chip  self-test  self-diagnosis  self-repair