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I-DDT testing versus I-DDQ testing 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1998, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 51-55
作者:  Min, YH;  Li, ZC
收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2019/12/16
I-DDQ test  Boolean process  stuck-open fault  I-DDT test