中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	出处：JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY    语种：英语    专题：中国科学院计算技术研究所期刊论文    第一作者的第一单位    第一作者单位    通讯作者单位

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	Parallel Software-Based Self-Testing with Bounded Model Checking for Kilo-Core Networks-on-Chip 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2023, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 405-421 作者:  Zhang, Ying;  Ji, Peng-Fei;  Zhu, Pan-Wei;  Peng, Zebo;  Li, Hua-Wei;  Jiang, Jian-Hui 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2023/12/04 software-based self-testing (SBST)  parallel test  kilo-core networks-on-chip (NoCs)  online testing
	Constructing Edge-Colored Graph for Heterogeneous Networks 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2015, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 1154-1160 作者:  Hou, Rui;  Wu, Ji-Gang;  Chen, Yawen;  Zhang, Haibo;  Sui, Xiu-Feng 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/13 network reliability  homogeneous fault  fault tolerance  reconfigurable system  network-on-chip
	Runtime engine for dynamic profile guided stride prefetching 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 4, 页码: 633-643 作者:  Zou, Qiong;  Li, Xiao-Feng;  Zhang, Long-Bing 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 stride prefetching  dynamic profiling  runtime system
	Leakage current optimization techniques during test based on don't care bits assignment 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 673-680 作者:  Wang, Wei;  Hu, Yu;  Han, Yin-He;  Li, Xiao-Wei;  Zhang, You-Sheng 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 leakage current  don't care bits  minimum leakage vector  leakage power
	VFSim: Concurrent fault simulation at register transfer level 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 175-186 作者:  Shen, L 收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/16 high-level testing  Verilog  RTL  circuit modeling  fault model  concurrent fault simulation
	A novel RTL behavioral description based ATPG method 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317 作者:  Yin, ZG;  Min, YH;  Li, XW;  Li, HW 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 RTL (Register Transfer Level)  ATPG (Automatic Test Pattern Generation)  behavioral description  HDL (Hardware Description Language)
	I-DDT: Fundamentals and test generation 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 299-307 作者:  Kuang, JS;  You, ZQ;  Zhu, QJ;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：76/0  |  提交时间：2019/12/16 I-DDT testing  logical transition  hazard  stuck-open fault
	Fault-tolerant systems with concurrent error-locating capability 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 2, 页码: 190-200 作者:  Jiang, JH;  Min, YH;  Peng, CL 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 fault-tolerant system  concurrent error location  concurrent error correction  dual-module redundancy  robust fault-masking
	Node grouping in system-level fault diagnosis 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 474-479 作者:  Zhang, DF;  Xie, GG;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2019/12/16 system-level fault diagnosis  one-step t-diagnosable system  node grouping  diagnosis algorithm  probabilistic diagnosis
	A fault-tolerant routing scheme in dynamic networks 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 16, 期号: 4, 页码: 371-380 作者:  Feng, XS;  Han, CD 收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/16 MNLIR scheme  fault-tolerant routing scheme  dynamic network  interval routing