中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条

帮助

限定条件	出处：IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	A Novel Post-Silicon Debug Mechanism Based on Suspect Window 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 5, 页码: 1175-1185 作者:  Jianliang Gao;  Yinhe Han;  Xiaowei Li 收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/16 debug  scan dump  real-time trace  suspect window
	Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625 作者:  Hu, Yu;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Wen, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/16 compression  run-length coding  random access scan  power dissipation  test application time
	Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134 作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/16 SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping