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A FUNCTIONAL TESTING METHOD FOR MICROPROCESSORS 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 1988, 卷号: 37, 期号: 10, 页码: 1288-1293
作者:  SHEN, L;  SU, SYH
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/12/10