中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	出处：CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS

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	Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test 期刊论文 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2009, 卷号: 18, 期号: 1, 页码: 54-58 作者:  Wang Wei;  Han Yinhe;  Li Xiaowei;  Fang Fang 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2019/12/16 Co-optimization  Test power  Blocking logic  Minimum leakage vector