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一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
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验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
集成电路高层故障模型评估方法 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 004, 页码: 228
作者:  杨修涛;  鲁巍;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04
模型评估  强对应集  弱对应集