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Distance metric learning for pattern recognition
Lu, Jiwen1; Wang, Ruiping2; Mian, Ajmal3; Kumar, Ajay4; Sarkar, Sudeep5
2018-03-01
发表期刊PATTERN RECOGNITION
ISSN0031-3203
卷号75页码:1-3
DOI10.1016/j.patcog.2017.10.032
收录类别SCI
语种英语
WOS研究方向Computer Science ; Engineering
WOS类目Computer Science, Artificial Intelligence ; Engineering, Electrical & Electronic
WOS记录号WOS:000418971900001
出版者ELSEVIER SCI LTD
引用统计
被引频次:9[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/6268
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_英文
通讯作者Lu, Jiwen
作者单位1.Tsinghua Univ, Dept Automat, Beijing 100084, Peoples R China
2.Chinese Acad Sci, Inst Comp Technol, Beijing 100190, Peoples R China
3.Univ Western Australia, Sch Comp Sci & Software Engn, Crawley, WA 6009, Australia
4.Hong Kong Polytech Univ, Dept Comp, Kowloon, Hong Kong, Peoples R China
5.Univ S Florida, Dept Comp Sci & Engn, Tampa, FL 33620 USA
推荐引用方式
GB/T 7714
Lu, Jiwen,Wang, Ruiping,Mian, Ajmal,et al. Distance metric learning for pattern recognition[J]. PATTERN RECOGNITION,2018,75:1-3.
APA Lu, Jiwen,Wang, Ruiping,Mian, Ajmal,Kumar, Ajay,&Sarkar, Sudeep.(2018).Distance metric learning for pattern recognition.PATTERN RECOGNITION,75,1-3.
MLA Lu, Jiwen,et al."Distance metric learning for pattern recognition".PATTERN RECOGNITION 75(2018):1-3.
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