Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
A FUNCTIONAL TESTING METHOD FOR MICROPROCESSORS | |
SHEN, L; SU, SYH | |
1988-10-01 | |
发表期刊 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS |
ISSN | 0018-9340 |
卷号 | 37期号:10页码:1288-1293 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
WOS研究方向 | Computer Science ; Engineering |
WOS类目 | Computer Science, Hardware & Architecture ; Engineering, Electrical & Electronic |
WOS记录号 | WOS:A1988Q294200015 |
出版者 | IEEE COMPUTER SOC |
引用统计 | |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/5383 |
专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_英文 |
作者单位 | 1.SUNY BINGHAMTON,WATSON SCH ENGN,DEPT COMP,BINGHAMTON,NY 13901 2.CHINESE ACAD SCI,INST COMP TECHNOL,BEIJING,PEOPLES R CHINA |
推荐引用方式 GB/T 7714 | SHEN, L,SU, SYH. A FUNCTIONAL TESTING METHOD FOR MICROPROCESSORS[J]. IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS,1988,37(10):1288-1293. |
APA | SHEN, L,&SU, SYH.(1988).A FUNCTIONAL TESTING METHOD FOR MICROPROCESSORS.IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS,37(10),1288-1293. |
MLA | SHEN, L,et al."A FUNCTIONAL TESTING METHOD FOR MICROPROCESSORS".IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS 37.10(1988):1288-1293. |
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