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SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法
夏静1; 王天成2; 吕涛2; 李华伟2; 邝继顺1
2014
发表期刊计算机研究与发展
ISSN1000-1239
卷号51.0期号:008页码:1764
摘要为了提高基于SRAM的FPGA(SFPGA)上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率(soft error rate,SER)评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率(error propagation probability,EPP)和节点错误率(node error rate,NER),得到软错误评估标准SER的估算值,并将该值作为可靠性因子加入到代价函数中指导装箱过程,以减少装箱后可编程逻辑块(configuration logic block,CLB)之间互连的软错误率,从而提高设计的可靠性.对20个MCNC基准电路(最大基准电路集)进行实验,结果表明,与基准时序装箱算法T-Vpack及已有的容错装箱算法FTvpack相比较,软故障率分别减少了14.5%和4.11%.而且,与F-Tvpack比较,在仅增加0.04%的面积开销下,减少了2.31%的关键路径的时延,提供了较好的时序性能.
关键词SRAM型FPGA 软错误率 可靠性 装箱 单粒子翻转
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/37450
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位1.湖南大学
2.中国科学院计算技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
夏静,王天成,吕涛,等. SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法[J]. 计算机研究与发展,2014,51.0(008):1764.
APA 夏静,王天成,吕涛,李华伟,&邝继顺.(2014).SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法.计算机研究与发展,51.0(008),1764.
MLA 夏静,et al."SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法".计算机研究与发展 51.0.008(2014):1764.
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