Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
| IEEE754标准浮点测试向量的生成 | |
| 何立强 | |
| 2004 | |
| 发表期刊 | 计算机工程
 |
| ISSN | 1000-3428 |
| 卷号 | 30.0期号:019页码:38 |
| 摘要 | 介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法，讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率，并给出了对该方法的一些改进措施。 |
| 关键词 | IEEE754 测试 测试向量 差错覆盖率 浮点功能部件 |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36406 |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 何立强. IEEE754标准浮点测试向量的生成[J]. 计算机工程,2004,30.0(019):38. |
| APA | 何立强.(2004).IEEE754标准浮点测试向量的生成.计算机工程,30.0(019),38. |
| MLA | 何立强."IEEE754标准浮点测试向量的生成".计算机工程 30.0.019(2004):38. |
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